18. 공핍형, 증가형 MOSFET
그동안 앞에서 다룬 FET회로들은 JFET에 대한 회로들이었다. 여기서는 MOSFET에 대해서 다룰 것인데 MOSFET의 교류등가모델은 JFET와 같은 등가모델을 사용한다.
공핍형 MOSFET:
(공핍형 MOSFET의 교류등가회로. JFET의 경우와 같다.)
다만 n채널에서 VGS>0을 허용하기 때문에 gm이 gm0보다 커질 수 있다.
증가형 MOSFET:
(증가형 MOSFET의 교류등가회로. JFET의 경우와 같다.)
이상적인 전압-전류 특성을 다음의 방정식으로 나타낼 수 있다.
(비포화영역에서): iD=Kn[2(vGS−VT)vDS−v2DS]
(포화영역(vDS≥vDS(sat))에서):iD=Kn(vGS−VT)2→1rd=∂iD∂vDS|vGS=constant=0이상적인 경우(rd=∞)로 포화영역에서 iD는 vDS의 함수가 아니다.
n채널 증가 MOSFET에 대한 곡선군. vDS(sat)는 각 곡선 위의 한 점이다.
Kn은 트랜스컨덕컨스 또는 전도 파라미터라고 하며 Kn=12μnCoxWL이고 여기서
μn은 전자의 이동도(단위: cm2/(V-sec)), Cox=ϵoxtox는 단위 면적당 산화막 커패시턴스(단위: F/cm2),
ϵox는 산화막의 유전율(단위: F/cm), tox는 산화막의 두께(단위: cm), W는 채널폭(단위: cm), L은 채널길이(단위: cm),
WL은 종횡비(단위없음)로 원하는 전류-전압 특성을 얻기 위해 MOS설계에서 사용되는 변수이다.
(증가형 NMOS 트랜지스터의 구조)
채널길이의 변조효과: 이상적인 경우, 포화영역의 MOSFET이 포화영역에서 동작할 때 iD는 vDS의 영향을 받지 않는다. 실제로 MOSFET의 특성곡선에서 포화점을 넘어서면 기울기가 0이 아니게 된다. vDS>vDS(sat)에 대해서 반전전하(inversion layer)가 0이 되는 채널속의 위치는 드레인에서 멀어진다(채널길이가 감소한다).
n채널의 포화영역에서의 특성곡선은 iD=Kn(vGS−VT)2(1+λvDS)이고 vDS=−VA일 때 iD=0이고 λ=1VA이다.
채널길이 변조로 인한 출력저항은 1rd=∂iD∂vDS|vGS=constant=λKn(VGSQ−VT)2≈λIDQ이므로 rd=1λIDQ=VAIDQ이다.
트랜스 컨덕턴스 gm을 구하면gm=diDdvGS|Q−point=2Kn(vGS−VT)=2Kn(VGSQ−VT)=2Kn√IDQKn=2√KnIDQ이다.
gm의 계산 방법이 JFET의 경우와 다른 점을 제외하면 교류해석방법은 같다.
ID=k(VGS−VT)2, gm=dIDdVGS=2k(VGS−VT)
참고자료:
Electronic Devices and Circuit Theory 11th edition, Boylestad, Nashelsky, Pearson
Microelectronics: Circuit Analysis and Design 4th edition, Neamen, McGraw-Hill
https://www.youtube.com/watch?v=FHJqnDsTstY
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